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新型芯片研发:手机‘X光’透视或成现实

   时间:2024-06-17 15:28:54 来源:ITBEAR编辑:星辉 发表评论无障碍通道

【ITBEAR科技资讯】6月17日消息,近日,一项长达十五年的科研项目取得了令人瞩目的进展。该项目旨在研发一种能让智能手机用户像使用X光一样透视固体表面的新型芯片。但出于对用户健康的考虑,研究团队并未直接使用X光技术,而是选用了频率在200 GHz至400 GHz之间的信号。

目前,这项技术已通过初步测试,显示出显著的成果。研究人员已成功利用该技术穿透尘埃、浓雾以及空中微粒,甚至在最近的一次实验中,还实现了透过纸板进行观察。然而,尽管取得了这些突破性进展,但要让智能手机用户真正能够利用吉赫兹信号透视墙壁和其他物体,可能仍需要数年的深入研发。

据ITBEAR科技资讯了解,德克萨斯大学达拉斯分校是这项技术的研发重镇。该校电气工程教授、德克萨斯模拟与嵌入式系统中心主任Kenneth O博士作为项目的主要负责人,详细介绍了这一科研项目的最新动态。他兴奋地表示,这项技术有望为用户带来前所未有的透视能力,如同电影中的超人般神奇。

然而,Kenneth O博士也指出了当前面临的技术挑战。由于需要处理的像素数量巨大,目前获取透过物体的图像仍需耗费数小时。但他对未来充满信心,认为只要获得足够的资金支持,这项技术有望实现即时成像,并在不久的将来被广泛应用于智能手机领域。

展望未来,装有这种透视芯片的智能手机将能够轻松透视信封、包裹等物品,甚至在医院环境中用于监测患者体内水分含量。虽然目前该技术仍要求待透视物体与设备的距离不超过一英寸,这在一定程度上限制了其应用范围,但科研团队正致力于扩展透视距离,并确保技术的安全性和合规性,以防止任何潜在的滥用行为。

 
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